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[多选题]

InkDie;DefectiveDie;gooddie分别是指()。

A.墨点片

B.好芯片

C.坏芯片

D.边缘片

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第1题

粘片机菜单中,InkDie和DefectiveDie分别是指()。

A.墨点芯片和坏芯片

B.坏芯片和墨点芯片

C.好芯片和墨点片

D.墨点片和好芯片

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第2题

参考点应尽量选择晶圆对角线上的(),并在上面用打点笔做上标记便于寻找

A.特殊坏芯片

B.白板芯片

C.墨点片

D.边缘片

E.好芯片

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第3题

以下异常可通过45X显微镜发现的有()

A.崩单晶

B.银浆沾污

C.粘边缘片

D.芯片压伤

E.粘墨点

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第4题

上芯若发现有()的不良品,打叉时必须把芯片涂黑

A.沾污

B.芯片压伤划伤

C.芯片光刻不足

D.粘墨点片

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第5题

墨点边缘不光滑的,芯片墨点淡的,REJ(目检)。()
墨点边缘不光滑的,芯片墨点淡的,REJ(目检)。()

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第6题

在粘片机中searchdie是指()。

A.丢失芯片

B.捡拾芯片

C.搜索芯片

D.芯片步进

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第7题

作业员对卸下的兰膜检查项目有()。

A.漏粘好芯片

B.顶针印迹偏移

C.背崩

D.粘边缘片

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第8题

误装即所装芯片为()、()或未选用规定区域之芯片。

A.光刻不足芯片

B.墨点芯片

C.白板芯片

D.不完整芯片

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第9题

加工过程中出现遗漏好芯片异常时,作业员应该()。

A.反馈生产组长重新校准WAFERPR

B.待加工完后将好芯片手动打墨点

C.加工完后将好芯片用镊子夹掉

D.重新校准晶圆PR后继续加工

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第10题

上芯晶圆上墨点芯片的打点直径不得小于()um,不允许打()。

A.200

B.100

C.红色墨点

D.黑色墨点

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