直探头纵波探伤发现缺陷波较低，且底面回波降低较大，缺陷取向可能是（）

A.平行且靠近探测面

B.与声速方向平行

C.与探测面成较大角度

D.平行且靠近底面

A、底面回波降低或消失

B、底面回波正常

C、底面回波变宽

D、底面回波变窄

A.无底面回波或底面回波降低

B.难以发现平行探测面缺陷

C.声波穿透力下降

D.缺陷回波受底面回波影响

A.纵波直探头

B.横波斜探头

C.纵波斜探头

D.表面波探头

A.与探测面平行的大缺陷

B.与探测面垂直的大缺陷

C.与探测面倾斜的大缺陷

D.以上都可能

A.平行

B.垂直

C.倾斜

D.呈90°

A.探头杂波

B.工件轮廓回波

C.幻象波

D.表面波

A．缺陷横截面积较大，且较接近探测表面

B．缺陷横截面积较大，且较接近底面

C．缺陷横截面积较小，但较接近探测表面

D．缺陷横截面积较小，但较接近底面

A.平行

B.垂直

C.成30°角

D.成45°角

A、耦合不良

B、存在与声束不垂直的平面缺陷

C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

D、以上都是

A.164mm

B.90mm

C.49mm

D.55mm